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美國泛美38DL PLUS超聲波測厚儀- 詳細介紹：
美國泛美38DL PLUS超聲波測厚儀
38DL PLUS超聲測厚儀主要應用是：測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中最常使用的是雙晶探頭。
主要特點：
可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內部氧化層/沉積物軟件選項。
對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量
多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時間測量。
差分模式和縮減率模式。
時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
設計符合EN15317標準。
可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區。
可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
內置和外置MicroSD存儲卡。
USB和RS-232通訊端口。
可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的字母數字式數據記錄器。
可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
默認或自定義雙晶探頭設置。
默認或自定義單晶探頭設置。
密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。
