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1-SI410光學(xué)應(yīng)變計測量設(shè)備

型號：	SI410
所屬分類：	數(shù)據(jù)采集儀表
品牌：
報價：	市場價:面議

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德國HBM，1-SI410光學(xué)應(yīng)變計測量設(shè)備，1-SI410，SI410

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1-SI410光學(xué)應(yīng)變計測量設(shè)備- 詳細介紹：

SI / DI - 用于光學(xué)應(yīng)變計的測量設(shè)備

當采用光學(xué)應(yīng)變計,你可以從完美配合的測量鏈中獲益. 節(jié)約時間,增強安全性,從單一源獲益.通過光學(xué)應(yīng)變計測量設(shè)備和軟件,進行光學(xué)應(yīng)變計數(shù)據(jù)采集.

產(chǎn)品描述

SI 系列 用于1到4個通道的靜態(tài)數(shù)據(jù)采集, 1 到 5 次測量/秒:

SI101: 單通道, 1 次測量/秒
SI105: 單通道, 5 次測量/秒
SI401: 4 通道, 1 次測量/秒
SI405: 4 通道, 5 次測量/秒
SI410: 4 通道, 10 次測量/秒

DI 系列 用于動態(tài)數(shù)據(jù)采集, 100 到 1000 次測量/秒:

DI101: 單通道, 100 次測量/秒
DI105: 單通道, 500 次測量/秒
DI110: 單通道, 1000 次測量/秒
DI405: 4 通道, 500 次測量/秒
DI410: 4 通道, 1000 次測量/秒

NEW: In addition to the specifications in the data sheet, DI410 is available in standard version, with 1 kHz sample rate and a measuring range (spectrum) of 1510 to 1590 and, in addition, with

2 kHz sample rate and a measuring range (spectrum) of 40 nm (range: 1525 - 1565 nm) or
0.5 kHz sample rate and a measuring range (spectrum) of 160 nm (range: 1460 - 1620 nm)